Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: tit all "Fast and Automated Electromigration Analysis for CMOS RF PA Design."
Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1126384690 |
Titel | Fast and Automated Electromigration Analysis for CMOS RF PA Design / by Junjie Gu, Haipeng Fu, Weicong Na, Qijun Zhang, Jianguo Ma |
Person(en) |
Gu, Junjie (Verfasser) Fu, Haipeng (Sonstige) Na, Weicong (Sonstige) Zhang, Qijun (Sonstige) Ma, JianGuo (Sonstige) |
Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:1111-201702268723 DOI: 10.1007/s10836-016-5639-4 |
URL | http://dx.doi.org/10.1007/s10836-016-5639-4 |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2017 |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Beziehungen | In: Journal of electronic testing (Bd. 33, 29.1.2017, Nr. 1, date:2.2017: 133-140) |
Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |