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Ergebnis der Suche nach: tit all "Functional Test Generation for Sequential Circuits."



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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1317355598
Titel Functional versus random test generation for sequential circuits / by Margot Karam, Gabriele Saucier
Person(en) Karam, Margot (Verfasser)
Saucier, Gabriele (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format 1 Online-Ressource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2024012615292361533701
DOI: 10.1007/BF00971938
URL https://doi.org/10.1007/BF00971938
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 1993
DDC-Notation 005.14 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Journal of electronic testing (Bd. 4, Nr. 1, date:2.1993: 33-41)
Sachgruppe(n) 004 Informatik

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