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Titel Statistical Delay Fault Coverage Estimation for Synchronous Sequential Circuits / by Lakshminarayana Pappu, Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal, Srinivas Mandyam-Komar
Person(en) Pappu, Lakshminarayana (Verfasser)
Bushnell, Michael L. (Verfasser)
Agrawal, Vishwani D. (Verfasser)
Mandyam-Komar, Srinivas (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format Online-Ressource : online resource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2019102521305690544566
DOI: 10.1023/A:1008228817698
URL https://doi.org/10.1023/A:1008228817698
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 1998
DDC-Notation 621.395 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Journal of electronic testing (Bd. 12, Nr. 3, date:6.1998: 239-254)
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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