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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Untersuchungen von Defektstrukturen in getemperten Siliziumkristallen / vorgelegt von Roland Bouchard
Person(en) Bouchard, Roland (Verfasser)
Ausgabe [Mikrofiche-Ausg.]
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 1993
Umfang/Format 135 Bl. : Ill., graph. Darst.
Hochschulschrift Hamburg, Univ., Diss., 1993
Anmerkungen Mikrofiche-Ausg.: 2 Mikrofiches : 24x
Schlagwörter Silicium ; Czochralski-Verfahren ; Gitterbaufehler ; Diffraktometrie
Sachgruppe(n) 29 Physik, Astronomie ; 37 Elektrotechnik

Frankfurt Signatur: H 1993 MF 881
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: H 1993 MF 881
Bereitstellung in Leipzig




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