Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: tit all "The pseudoexhaustive test of sequential circuits."
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/102168757X |
| Titel | The pseudoexhaustive test of sequential circuits / Hans-Joachim Wunderlich ; Sybille Hellebrand |
| Person(en) |
Wunderlich, Hans-Joachim (Verfasser) Hellebrand, Sybille (Verfasser) |
| Verlag | Stuttgart : Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2012 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bsz:93-opus-73030 |
| URL | http://elib.uni-stuttgart.de/opus/volltexte/2012/7303/ (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Anmerkungen | In: IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems 11 (1992), S. 26-33. URL http://dx.doi.org./10.1109/43.108616 |
| Schlagwörter | Integrierte Schaltung ; Fehlererkennung ; Automatisches Prüfen |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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