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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Characterization of parasitic effects in integrated semiconductor devices with contactless fault isolation techniques / Anne Beyreuther ; Gutachter: Christian Boit, Bernd Szyszka, Navid Asadi ; Betreuer: Christian Boit
Person(en) Beyreuther, Anne (Verfasser)
Boit, Christian (Akademischer Betreuer)
Boit, Christian (Gutachter)
Szyszka, Bernd (Gutachter)
Asadi, Navid (Gutachter)
Verlag Berlin : Technische Universität Berlin
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2022
Umfang/Format Online-Ressource
Hochschulschrift Dissertation, Berlin, Technische Universität Berlin, 2021
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2022031600594371361504
DOI: 10.14279/depositonce-14808
Handle: 11303/16034
URL (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Schlagwörter Semiconductors* (*maschinell ermittelt)
DDC-Notation 621.381528 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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