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	1	Atomic force microscope (AFM) cantilevers as encoder for real-time displacement measurements Chen, Xiaomei. - Berlin : mbv, Mensch-und-Buch-Verl., 2011
	2	Beiträge zur Entwicklung neuer physikalisch-chemischer Messinstrumente Wudy, Franz, 2009, [Online-Ausg.]
	3	Beiträge zur Entwicklung neuer physikalisch-chemischer Messinstrumente Wudy, Franz, 2009
	4	Two new installations for non-destructive sample analysis: PIXE and PGAA Kudějová, Petra, 2005
	5	Two new installations for non-destructive sample analysis: PIXE and PGAA Kudějová, Petra, 2005