|
1 |
Epitaxial graphene on SiC for quantum resistance metrology Kruskopf, Mattias. - Braunschweig : Physikalisch-Technische Bundesanstalt, [2017], [1. Auflage]
|
|
|
2 |
Line edge roughness in optical critical dimension metrology Bilski, Bartosz. - Stuttgart : Institut für Technische Optik der Universität Stuttgart, 2016
|
|
|
3 |
High-accuracy optical clock based oh the octupole transition in 171Yb+ Huntemann, Nils. - Braunschweig : Physikalisch-Technische Bundesanstalt, August 2015
|
|
|
4 |
Learning comprehensible models for analysis and predictions in scientific databases Zimmer, Anca M.. - Aachen : Apprimus-Verl., 2014, 1. Aufl.
|
|
|
5 |
Learning comprehensible models for analysis and predictions in scientific databases Zimmer, Anca M.. - Aachen : Hochschulbibliothek der Rheinisch-Westfälischen Technischen Hochschule Aachen, 2014
|
|
|
6 |
Aus Fehlern wird man klug Heinicke, Susanne. - Berlin : Logos-Verl., 2012
|
|
|
7 |
Development of a Double-Ended Gauge Block Interferometer for Measurement of the Absolute Length Abdelnaser, Amany Abdelaty Mohammed. - Braunschweig : Technische Universität Braunschweig, 2012
|
|
|
8 |
Development of a double-ended gauge block interferometer for measurement of the absolute length Abdelnaser, Amany Abdelaty Mohammed, 2012
|
|
|
9 |
Symmetrieabhängige Frequenzverschiebungen in Atomuhren Will, Johannes, 2012
|
|
|
10 |
Symmetrieabhängige Frequenzverschiebungen in Atomuhren Will, Johannes. - Hannover : Technische Informationsbibliothek und Universitätsbibliothek Hannover (TIB), 2012
|
|