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Ergebnis der Suche nach: tit all "Low Temperature Scanning Probe Microscopy"
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Artikel 1 A cantilever-based, ultrahigh-vacuum, low-temperature scanning probe instrument for multidimensional scanning force microscopy
Enthalten in Beilstein journal of nanotechnology Bd. 13: 1120-1140 		Online Ressource
Artikel 2 Low-Temperature Reduction of Graphene Oxide: Electrical Conductance and Scanning Kelvin Probe Force Microscopy
Enthalten in Nanoscale research letters Bd. 13, 8.5.2018, Nr. 1, date:12.2018: 1-11 		Online Ressource


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