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	1	Epitaxial graphene on SiC for quantum resistance metrology Kruskopf, Mattias. - Braunschweig : Physikalisch-Technische Bundesanstalt, [2017], [1. Auflage]
	2	Line edge roughness in optical critical dimension metrology Bilski, Bartosz. - Stuttgart : Institut für Technische Optik der Universität Stuttgart, 2016
	3	High-accuracy optical clock based oh the octupole transition in 171Yb+ Huntemann, Nils. - Braunschweig : Physikalisch-Technische Bundesanstalt, August 2015
	4	Learning comprehensible models for analysis and predictions in scientific databases Zimmer, Anca M.. - Aachen : Apprimus-Verl., 2014, 1. Aufl.
	5	Learning comprehensible models for analysis and predictions in scientific databases Zimmer, Anca M.. - Aachen : Hochschulbibliothek der Rheinisch-Westfälischen Technischen Hochschule Aachen, 2014
	6	Aus Fehlern wird man klug Heinicke, Susanne. - Berlin : Logos-Verl., 2012
	7	Development of a Double-Ended Gauge Block Interferometer for Measurement of the Absolute Length Abdelnaser, Amany Abdelaty Mohammed. - Braunschweig : Technische Universität Braunschweig, 2012
	8	Development of a double-ended gauge block interferometer for measurement of the absolute length Abdelnaser, Amany Abdelaty Mohammed, 2012
	9	Symmetrieabhängige Frequenzverschiebungen in Atomuhren Will, Johannes, 2012
	10	Symmetrieabhängige Frequenzverschiebungen in Atomuhren Will, Johannes. - Hannover : Technische Informationsbibliothek und Universitätsbibliothek Hannover (TIB), 2012