Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: idn=1328150437
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1328150437 |
| Titel | Benchmarking of X‐Ray Fluorescence Microscopy with Ion Beam Implanted Samples Showing Detection Sensitivity of Hundreds of Atoms |
| Person(en) |
Masteghin, Mateus G. (Verfasser) Gervais, Toussaint (Verfasser) Clowes, Steven K. (Verfasser) Cox, David C. (Verfasser) Zelyk, Veronika (Verfasser) Pattammattel, Ajith (Verfasser) Chu, Yong S. (Verfasser) Kolev, Nikola (Verfasser) Stock, Taylor J. Z. (Verfasser) Curson, Neil J. (Verfasser) Evans, Paul G. (Verfasser) Stuckelberger, Michael (Verfasser) Murdin, Benedict N. (Verfasser) |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2405021408083.457638005838 DOI: 10.1002/smtd.202301610 |
| URL | https://doi.org/10.1002/smtd.202301610 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 01.05.2024 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Small Methods (01.05.2024. 7 S.) |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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