Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "112302890"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1364513056 |
| Titel | High-resolution coherence scanning immersion interferometry for characterization of sub-micrometer surface structures |
| Person(en) |
Stelter, Andre (Verfasser) Käkel, Eireen (Verfasser) Hillmer, Hartmut (Verfasser) Lehmann, Peter (Verfasser) |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2505040348482.426613491691 DOI: 10.1515/teme-2025-0011 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 08.04.2025 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Technisches Messen (Bd. 92, 2025, Nr. 5: 168-178. 11 S.) |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

