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Titel Photovoltaic module reliability testing in the context of carrier-induced degradation / Esther Fokuhl ; Gutachter: Thomas Mikolajick, Viktor Wesselak, Stefan Glunz
Person(en) Fokuhl, Esther (Verfasser)
Mikolajick, Thomas (Gutachter)
Wesselak, Viktor (Gutachter)
Glunz, Stefan (Gutachter)
Verlag Nordhausen : Hochschule Nordhausen
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2025
Umfang/Format Online-Ressource, 215 Seiten (pdf)
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:gbv:27-dbt-67201-0
URL https://www.db-thueringen.de/receive/dbt_mods_00067201 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Nordhäuser Hochschultexte - Schriftenreihe Ingenieurwissenschaften ; 7
Schlagwörter Fotovoltaik
Zuverlässigkeit* ; Degradation <Technik>* ; Fotovoltaik* ; Solarzelle* ; Polykristall* (*maschinell ermittelt)
DDC-Notation 621.31244 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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