Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: swiRef=043274730
Treffer 1 von 205
|
|
| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1335698965 |
| Titel | Charakterisierung von Mikrokugeln auf der Basis von AFM-Oberflächenscans / Erik Oertel ; Eberhard Manske, Rainer Tutsch, Gaoliang Dai |
| Person(en) |
Oertel, Erik (Verfasser) Manske, Eberhard (Akademischer Betreuer) Tutsch, Rainer (Akademischer Betreuer) Dai, Gaoliang (Akademischer Betreuer) |
| Verlag | Ilmenau : TU Ilmenau |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2024 |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Hochschulschrift | Dissertation, Ilmenau, TU Ilmenau, 2024 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:gbv:ilm1-2024000215 |
| URL | https://www.db-thueringen.de/receive/dbt_mods_00061581 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| Schlagwörter | Rasterkraftmikroskopie ; Mikrometerbereich ; Nanometerbereich ; Koordinatenmessgerät |
| DDC-Notation | 535.4 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
Treffer 1 von 205
Administration
