Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "112302890"
|   | |
| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1364513056 | 
| Titel | High-resolution coherence scanning immersion interferometry for characterization of sub-micrometer surface structures | 
| Person(en) | Stelter, Andre (Verfasser) Käkel, Eireen (Verfasser) Hillmer, Hartmut (Verfasser) Lehmann, Peter (Verfasser) | 
| Umfang/Format | Online-Ressource | 
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:101:1-2505040348482.426613491691 DOI: 10.1515/teme-2025-0011 | 
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 08.04.2025 | 
| Sprache(n) | Englisch (eng) | 
| Beziehungen | Enthalten in: Technisches Messen (Bd. 92, 2025, Nr. 5: 168-178. 11 S.) | 
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen | 
 Administration
Administration
		







