Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/941549445 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Elektromagnetische Rückwirkung der Messumgebung in der EMV Mess- und Prüftechnik / Siegbert Kunz |
| Person(en) | Kunz, Siegbert (Verfasser) |
| Ausgabe | Als Ms. gedr |
| Verlag | Düsseldorf : VDI-Verl. |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 1994 |
| Umfang/Format | VII, 143 S. : graph. Darst. ; 21 cm |
| Hochschulschrift | Zugl.: Karlsruhe, Univ., Diss., 1993 |
| ISBN/Einband/Preis |
978-3-18-340308-0 kart. : DM 91.00 (nicht im Sortimentsbuchh.) 3-18-340308-0 kart. : DM 91.00 (nicht im Sortimentsbuchh.) |
| Beziehungen | Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI / Reihe 08 / Mess-, Steuerungs- und Regelungstechnik ; Nr. 403 |
| Anmerkungen | Status nach VGG: vergriffen |
| Schlagwörter | Elektromagnetische Verträglichkeit ; Wellenleiter ; Messplatz |
| Sachgruppe(n) | 37 Elektrotechnik |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 1994 A 35598
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 1994 A 35598
Bereitstellung in Leipzig |
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