Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: tit all "Identifying Resistive Open Defects in Embedded Cells under Variations"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1361222956 |
| Titel | Identifying resistive open defects in embedded cells under variations / Zahra Paria Najafi-Haghi, Hans-Joachim Wunderlich |
| Person(en) |
Najafi-Haghi, Zahra Paria (Verfasser) Wunderlich, Hans-Joachim (Verfasser) |
| Verlag | Stuttgart : Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2023 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bsz:93-opus-ds-160290 |
| URL | (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Anmerkungen | In: Journal of electronic testing 39 (2023), S. 27-40 |
| DDC-Notation | 621.397 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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