Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/891274405 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Einheitliches Modell zur Beschreibung der Generations- und Ausheilprozesse von Oxidladungen Qot und Grenzflächenzuständen Dit im Siliziumdioxid durch Stress / Friedrich Wulf. [Hahn-Meitner-Inst. Berlin GmbH, Bereich Datenverarbeitung u. Elektronik] |
| Person(en) | Wulf, Friedrich (Verfasser) |
| Verlag | Berlin : Hahn-Meitner-Inst. |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 1989 |
| Umfang/Format | 128 S. : graph. Darst. ; 30 cm |
| Hochschulschrift | Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss., 1988 |
| ISBN/Einband/Preis | kart. |
| Identifikationsnummern | Reportnummer: HMI-B 465 |
| Anmerkungen | Status nach VGG: vergriffen |
| Sachgruppe(n) | 37 Elektrotechnik ; 29 Physik, Astronomie |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: D 89b/6797
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: SB 7316-465
Bereitstellung in Leipzig |
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