Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Neuigkeiten Dienstag, 17. Juni 2025: Die Deutsche Nationalbibliothek ist wegen eines Beschäftigtentreffens an beiden Standorten geschlossen. Die Ausstellungen des Deutschen Buch- und Schriftmuseums in Leipzig sind von 10 bis 18 Uhr geöffnet. Die Ausstellungen des Deutschen Exilarchivs 1933-1945 in Frankfurt sind geschlossen. // Tuesday, 17 June 2025: The German National Library will be closed at both locations due to a staff meeting. The exhibitions of the German Museum of Books and Writing in Leipzig will open from 10:00 to 18:00. The exhibitions of the German Exile Archive 1933-1945 in Frankfurt will be closed.
 
 

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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1342739574
Titel Automated analysis of high-resolution transmission electron microscopy images of nanoparticles by machine learning / Nina Gumbiowski ; Betreuer: Matthias Epple
Person(en) Gumbiowski, Nina (Verfasser)
Epple, Matthias (Akademischer Betreuer)
Verlag Duisburg ; Essen : Universität Duisburg-Essen
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2024
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Hochschulschrift Dissertation, Duisburg, Essen, Universität Duisburg-Essen, 2024
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:hbz:465-20240916-090930-9
DOI: 10.17185/duepublico/82442
URL https://duepublico2.uni-due.de/receive/duepublico_mods_00082442 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Schlagwörter Neuronales Netz* ; Durchstrahlungselektronenmikroskopie* ; Maschinelles Lernen* ; Hochauflösendes Verfahren* ; Bildverarbeitung* ; Deep learning* (*maschinell ermittelt)
DDC-Notation 620.5 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sachgruppe(n) 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

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