Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Neuigkeiten Dienstag, 17. Juni 2025: Die Deutsche Nationalbibliothek ist wegen eines Beschäftigtentreffens an beiden Standorten geschlossen. Die Ausstellungen des Deutschen Buch- und Schriftmuseums in Leipzig sind von 10 bis 18 Uhr geöffnet. Die Ausstellungen des Deutschen Exilarchivs 1933-1945 in Frankfurt sind geschlossen. // Tuesday, 17 June 2025: The German National Library will be closed at both locations due to a staff meeting. The exhibitions of the German Museum of Books and Writing in Leipzig will open from 10:00 to 18:00. The exhibitions of the German Exile Archive 1933-1945 in Frankfurt will be closed.
 
 

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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1115666762
Titel Signatures of two-level defects in the temperature-dependent damping of nanomechanical silicon nitride resonators / Thomas Faust, Johannes Rieger, Maximilian J. Seitner, Jörg P. Kotthaus, Eva M. Weig
Person(en) Faust, Thomas (Verfasser)
Rieger, Johannes (Verfasser)
Seitner, Maximilian J. (Verfasser)
Kotthaus, Jörg Peter (Verfasser)
Weig, Eva M. (Verfasser)
Verlag Konstanz : Bibliothek der Universität Konstanz
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2015
Umfang/Format Online-Ressource
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:bsz:352-0-288096
URL http://kops.uni-konstanz.de/handle/123456789/30913 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Anmerkungen In: Physical Review B ; 89 (2014), 10. - 100102(R). - ISSN 1098-0121. - eISSN 1095-3795
Sachgruppe(n) 530 Physik

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