Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "136175961"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1115666762 |
| Titel | Signatures of two-level defects in the temperature-dependent damping of nanomechanical silicon nitride resonators / Thomas Faust, Johannes Rieger, Maximilian J. Seitner, Jörg P. Kotthaus, Eva M. Weig |
| Person(en) |
Faust, Thomas (Verfasser) Rieger, Johannes (Verfasser) Seitner, Maximilian J. (Verfasser) Kotthaus, Jörg Peter (Verfasser) Weig, Eva M. (Verfasser) |
| Verlag | Konstanz : Bibliothek der Universität Konstanz |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2015 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bsz:352-0-288096 |
| URL | http://kops.uni-konstanz.de/handle/123456789/30913 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Anmerkungen | In: Physical Review B ; 89 (2014), 10. - 100102(R). - ISSN 1098-0121. - eISSN 1095-3795 |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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