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Titel Site selective spectroscopy with depth resolution using resonant x ray reflectometry
Person(en) Hamann Borrero, J.E. (Verfasser)
Macke, S. (Verfasser)
Gray, B. (Verfasser)
Kareev, M. (Verfasser)
Schierle, E. (Verfasser)
Partzsch, S. (Verfasser)
Zwiebler, M. (Verfasser)
Treske, U. (Verfasser)
Koitzsch, A. (Verfasser)
Büchner, B. (Verfasser)
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2017
Umfang/Format Online-Ressource
URL https://www.helmholtz-berlin.de/pubbin/oai_publication?VT=1&ID=93339 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Anmerkungen In: Scientific Reports 7 2017 , p. 13792 1 11
Datenlieferant: Helmholtz Zentrum Berlin (HZB): Publications





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