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Titel Advances in Grayscale Lithography Modeling / Bassem Badawi ; Gutachter: Christoph Kutter, Alfred Kersch ; Akademischer Betreuer: Christoph Kutter ; Universität der Bundeswehr München, Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Person(en) Badawi, Bassem (Verfasser)
Kutter, Christoph (Akademischer Betreuer)
Kutter, Christoph (Gutachter)
Kersch, Alfred (Gutachter)
Organisation(en) Universität der Bundeswehr München, Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Verlag Neubiberg : Universitätsbibliothek der Universität der Bundeswehr München
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2023
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Hochschulschrift Dissertation, Neubiberg, Universität der Bundeswehr München, 2023
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:bvb:706-9134
URL https://athene-forschung.unibw.de/144287 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Schlagwörter Fotolithografie, Halbleiertechnologie ; Grau ; Modellierung ; Algorithmus ; Sperrschicht-FET ; Simulation
Photoresist* ; Nanometerbereich* ; Fotolithografie <Halbleitertechnologie>* ; Simulation* (*maschinell ermittelt)
DDC-Notation 621.38153 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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