Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: tit all "Identifying Resistive Open Defects in Embedded Cells under Variations"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1286201012 |
| Titel | Identifying Resistive Open Defects in Embedded Cells under Variations / by Zahra Paria Najafi-Haghi, Hans-Joachim Wunderlich |
| Person(en) |
Najafi-Haghi, Zahra Paria (Verfasser) Wunderlich, Hans-Joachim (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2023041321185412875651 DOI: 10.1007/s10836-023-06044-z |
| URL | https://doi.org/10.1007/s10836-023-06044-z (Open Access) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2023 |
| DDC-Notation | 621.395 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Journal of electronic testing (9.2.2023: 1-14) |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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