Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: dcs=530.4*
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1130268055 |
| Titel | X-ray and image analysis in electron microscopy /John J. Friel & Ralf Terborg, Stefan Langner, Tobias Salge, Martin Rohde, Jana Berlin (married name: Bergholtz) |
| Person(en) |
Friel, John J. (Verfasser) Terborg, Ralf (Verfasser) Langner, Stefan (Verfasser) Salge, Tobias (Verfasser) Rohde, Martin (Verfasser) Berlin, Jana (Verfasser) |
| Organisation(en) |
Bruker Nano GmbH (Verfasser) Pro Business Digital Printing & Copyservice GmbH (Berlin) (Verlag) |
| Ausgabe | 3rd edition |
| Verlag | Berlin : Pro Business |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2017 |
| Umfang/Format | 118 Seiten : Illustrationen ; 29 cm, 580 g + 1 Blatt |
| ISBN/Einband/Preis |
978-3-86460-674-8 Festeinband : EUR 59.90 (DE), EUR 61.60 (AT) 3-86460-674-8 |
| Bestellnummer(n) | Bestellnummer: 15178 |
| EAN | 9783864606748 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Schlagwörter | Elektronenstrahlmikroanalyse ; Elektronenmikroskop |
| DDC-Notation | 530.417 [DDC22ger]; 502.825 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 2017 B 14867
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2017 B 15419 u. Beil.
Bereitstellung in Leipzig |
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