Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: tit all "Pattern Recognition"
Treffer 1016 von 1168
|
|
| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1287613101 |
| Titel | Pattern recognition of typical defects in high-voltage storage capacitors based on DC partial discharge / by GuangNing Wu, ShanShan Bian, LiRen Zhou, XueQin Zhang, HanZheng Ran, ChengLong Yu |
| Person(en) |
Wu, GuangNing (Verfasser) Bian, ShanShan (Verfasser) Zhou, LiRen (Verfasser) Zhang, XueQin (Verfasser) Ran, HanZheng (Verfasser) Yu, ChengLong (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2023050109482964050349 DOI: 10.1007/s11431-009-0380-1 |
| URL | https://doi.org/10.1007/s11431-009-0380-1 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2009 |
| DDC-Notation | 621.3192 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Science in China / Series E / Technological sciences (Bd. 52, 18.12.2009, Nr. 12, date:12.2009: 3729-3735) |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
Treffer 1016 von 1168
Administration
