Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/1087341140 |
| Organisation | IEEE Computer Society. Test Technology Technical Committee. Asia Subcommittee |
| Andere Namen | Asia Subcommittee (Test Technology Technical Committee ; IEEE Computer Society) |
| Land | Sonstiges Ausland, Unbekanntes Land (ZZ) |
| Beziehungen zu Organisationen | Administrativ übergeordnet: IEEE Computer Society |
| Typ | Organisation (kiz) |

