Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Machine Learning"
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1347161341 |
Titel | Machine Learning Enabled High‐Throughput Screening of 2D Ultrawide Bandgap Semiconductors for Flexible Resistive Materials |
Person(en) |
Chen, Chi (Verfasser) Wang, Hao (Verfasser) Wan, Houzhao (Verfasser) Sun, Dan (Verfasser) |
Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2411041329374.336714845571 DOI: 10.1002/aelm.202400435 |
URL | https://doi.org/10.1002/aelm.202400435 |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 04.11.2024 |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Beziehungen | Enthalten in: Advanced electronic materials (04.11.2024. 11 S.) |
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