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Ergebnis der Suche nach: "Machine Learning"



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Artikel
Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1347161341
Titel Machine Learning Enabled High‐Throughput Screening of 2D Ultrawide Bandgap Semiconductors for Flexible Resistive Materials
Person(en) Chen, Chi (Verfasser)
Wang, Hao (Verfasser)
Wan, Houzhao (Verfasser)
Sun, Dan (Verfasser)
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2411041329374.336714845571
DOI: 10.1002/aelm.202400435
URL https://doi.org/10.1002/aelm.202400435
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 04.11.2024
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Advanced electronic materials (04.11.2024. 11 S.)

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