Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Max" and "Planck"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1050979702 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Nanocrystalline thin films : microstructure, stability and properties / Silke J. B. Kurz. Betreuer: Eric J. Mittemeijer |
| Person(en) |
Kurz, Silke J. B. (Verfasser) Mittemeijer, Eric J. (Akademischer Betreuer) |
| Verlag | Stuttgart : Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2014 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Hochschulschrift | Zugl.: Stuttgart, Universität Stuttgart, Diss., 2014 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bsz:93-opus-91383 |
| URL | http://elib.uni-stuttgart.de/opus/volltexte/2014/9138/ (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Bericht / Max-Planck-Institut für Intelligente Systeme, Stuttgart (früher: Bericht / Max-Planck-Institut für Metallforschung, Stuttgart) ; 247 |
| Schlagwörter | PVD-Verfahren ; Dünne Schicht ; Röntgenbeugung ; Elektronenmikroskopie ; Dichtefunktionalformalismus ; Mikrostruktur ; Spannungsanalyse |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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