Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/1217718249 |
| Veranstaltung | IEEE VLSI Test Symposium (38. : 2020 : Online) |
| Andere Namen |
VLSI Test Symposium (38. : 2020 : Online) IEEE VTS (38. : 2020 : Online) VTS (38. : 2020 : Online) 2020 IEEE VTS, April 04-08, 2020, San Diego, USA |
| Quelle | Homepage (Stand: 16.09.2020): https://tttc-vts.org/public_html/new/2020/ |
| Zeit | 04.04.2020-08.04.2020 |
| Land | Sonstiges Ausland, Unbekanntes Land (ZZ) |
| Weitere Angaben | Aufgrund der COVID-19-Pandemie als Online-Konferenz abgehalten (ursprünglicher Veranstaltungsort: San Diego) |
| Typ | Veranstaltung (vie) |

