Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: dcs=50*
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1180031296 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Techniques to prevent sample surface charging and reduce beam damage effects for SBEM imaging / Benjamin Titze ; Betreuer: Winfried Denk |
| Person(en) |
Titze, Benjamin (Verfasser) Denk, Winfried (Akademischer Betreuer) |
| Verlag | Heidelberg : Universitätsbibliothek Heidelberg |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2013 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Titze, Benjamin: Techniques to prevent sample surface charging and reduce beam damage effects for SBEM imaging |
| Hochschulschrift | Dissertation, Heidelberg, Universität Heidelberg, 2013 |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:bsz:16-heidok-153721 DOI: 10.11588/heidok.00015372 |
| URL | http://www.ub.uni-heidelberg.de/archiv/15372 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Schlagwörter | Electron microscopy* ; Nerve tissue* ; Neural circuitry* ; Optics* (*maschinell ermittelt) |
| DDC-Notation | 502.825 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 500 Naturwissenschaften |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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