Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
|
|
|
| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/1091936137 |
| Veranstaltung | IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures |
| Andere Namen |
International Conference on Microelectronic Test Structures Microelectronic Test Structures (Symposium) ICMTS (International Conference on Microelectronic Test Structures) ICMTS Conference IEEE ICMTS (IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures) |
| Land | Sonstiges Ausland, Unbekanntes Land (ZZ) |
| Typ | Veranstaltungsfolge (vif) |

