Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/1092407952 |
| Veranstaltung | IEEE International Workshop on Design and Test of Nano Devices, Circuits and Systems |
| Andere Namen | NDCS (IEEE International Workshop on Design and Test of Nano Devices, Circuits and Systems) |
| Land | Sonstiges Ausland, Unbekanntes Land (ZZ) |
| Typ | Veranstaltungsfolge (vif) |

