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Titel	Investigation of charge carrier depletion in freestanding nanowires by a multi-probe scanning tunneling microscope / by Andreas Nägelein, Matthias Steidl, Stefan Korte, Bert Voigtländer, Werner Prost, Peter Kleinschmidt, Thomas Hannappel
Person(en)	Nägelein, Andreas (Verfasser) Steidl, Matthias (Sonstige) Korte, Stefan (Sonstige) Voigtländer, Bert (Sonstige) Prost, Werner (Sonstige) Kleinschmidt, Peter (Sonstige) Hannappel, Thomas (Sonstige)
Organisation(en)	SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format	Online-Ressource : online resource.
Persistent Identifier	URN: urn:nbn:de:101:1-2018082021405575897011 DOI: 10.1007/s12274-018-2105-x
URL	http://dx.doi.org/10.1007/s12274-018-2105-x
Zeitliche Einordnung	Erscheinungsdatum: 2018
Sprache(n)	Englisch (eng)
Beziehungen	Enthalten in: Nano research (11.6.2018: 1-11)
Sachgruppe(n)	530 Physik

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