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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1225619483
Titel Transmission Electron Microscopy Studies of Strained Si CMOS / by Qianghua Xie, Peter Fejes, Mike Kottke, Xiangdong Wang, Mike Canonico, David Theodore, Ted White, Mariam Sadaka, Victor Vartanian, Aaron Thean, Bich-Yen Nguyen, Alex Barr, Shawn Thomas, Ran Liu
Person(en) Xie, Qianghua (Verfasser)
Fejes, Peter (Verfasser)
Kottke, Mike (Verfasser)
Wang, Xiangdong (Verfasser)
Canonico, Mike (Verfasser)
Theodore, David (Verfasser)
White, Ted (Verfasser)
Sadaka, Mariam (Verfasser)
Vartanian, Victor (Verfasser)
Thean, Aaron (Verfasser)
Nguyen, Bich-Yen (Verfasser)
Barr, Alex (Verfasser)
Thomas, Shawn (Verfasser)
Liu, Ran (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format Online-Ressource : online resource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2021012221471345070240
DOI: 10.1557/PROC-864-E4.31
URL https://doi.org/10.1557/PROC-864-E4.31
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2005
DDC-Notation 537.6226 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Materials Research Society: MRS online proceedings library (Bd. 864, 1.10.2005, Nr. 1, date:12.2004: 4311-4315)
Sachgruppe(n) 530 Physik

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