Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: dcs=50*
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1012892328 |
| Titel | Kelvin probe force microscopy : measuring and compensating electrostatic forces / Sascha Sadewasser ; Thilo Glatzel ed. |
| Person(en) |
Sadewasser, Sascha (Herausgeber) Glatzel, Thilo (Herausgeber) |
| Verlag | Berlin ; Heidelberg : Springer |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2012 |
| Umfang/Format | XIV, 331 S. : Ill., graph. Darst. ; 25 cm |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Online-Ausgabe: Kelvin Probe Force Microscopy |
| ISBN/Einband/Preis |
978-3-642-22565-9 Pp. : EUR 106.95 (DE) (freier Pr.), sfr 143.50 (freier Pr.) 978-3-642-27113-7 Pb. : EUR 106.95 (DE) (freier Pr.), EUR 109.95 (AT) (freier Pr.), sfr 143.50 (freier Pr.) 3-642-22565-9 |
| Bestellnummer(n) | 12673179 |
| EAN | 9783642225659 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Springer series in surface sciences ; 48 |
| Anmerkungen | Literaturangaben |
| Schlagwörter | Kelvin-Sonde ; Rasterkraftmikroskopie |
| DDC-Notation | 530.417 [DDC22ger]; 502.82 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Weiterführende Informationen |
Inhaltsverzeichnis Inhaltstext |
| Frankfurt |
Signatur: 2011 A 78242 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2011 A 93763 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Leipzig |
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