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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/801008328 |
| Titel | Angewandte Szenenanalyse : DAGM-Symposium, Karlsruhe, 10. - 12. Oktober 1979 / hrsg. von J. P. Foith |
| Person(en) | Foith, Jörgen P. (Herausgeber) |
| Organisation(en) | Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung (Herausgebendes Organ) |
| Verlag | Berlin, Heidelberg, New York : Springer |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 1979 |
| Umfang/Format | XIII, 362 S. : Ill., graph. Darst. ; 25 cm |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Online-Ausgabe: Angewandte Szenenanalyse |
| ISBN/Einband/Preis |
978-3-540-09665-8 (Berlin, Heidelberg, New York) kart. : DM 35.50 3-540-09665-5 (Berlin, Heidelberg, New York) kart. : DM 35.50 978-0-387-09665-0 (New York, Heidelberg, Berlin) kart. 0-387-09665-5 (New York, Heidelberg, Berlin) kart. |
| Beziehungen |
Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung: DAGM-Symposium ; 2 Informatik-Fachberichte ; 20 |
| Anmerkungen |
Literaturangaben. Status nach VGG: lieferbar |
| Schlagwörter | Mustererkennung ; Bildverarbeitung ; Mustererkennung ; Erkennung ; Bildverarbeitung |
| Sachgruppe(n) | 20a Technik, Industrie, Gewerbe ; 19a Mathematik |
| Frankfurt |
Signatur: D 79/33211 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: SA 25482-20 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Leipzig |
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