Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1249161606 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Analyse von Störstellen in Halb- und Photoleitern mit Hilfe von Untersuchungen der elektrischen Leitfähigkeit / von Hans-Jürgen Hoffmann |
| Person(en) | Hoffmann, Hans-Jürgen (Verfasser) |
| Verlag | Karlsruhe |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 1978 |
| Umfang/Format | 52 Bl., Anh. : graph. Darst. ; 30 cm |
| Hochschulschrift | Karlsruhe, Univ., Habil.-Schr., 1979 |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| Anmerkungen | Status nach VGG: vergriffen |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: H 91b/11031
Bereitstellung in Frankfurt |
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