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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/975558234 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Test produktionsbedingter Laufzeitfehler in hochintegrierten, digitalen Schaltungen / von Volker H.-W. Meyer |
| Person(en) | Meyer, Volker Hans-Walther (Verfasser) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: [2004] |
| Umfang/Format | Online-Ressource, ca. 2,0 MB |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Test produktionsbedingter Laufzeitfehler in hochintegrierten, digitalen Schaltungen |
| Hochschulschrift | Bremen, Univ., Diss., 2003 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:gbv:46-diss000009177 |
| URL |
http://elib.suub.uni-bremen.de/publications/dissertations/E-Diss917_Meyer.pdf (Verlag) (kostenfrei zugänglich) http://elib.suub.uni-bremen.de/publications/diss/html/E-Diss917_HTML.html (Verlag) |
| Schlagwörter | Digitale integrierte Schaltung ; Testmustergenerator ; Fehlererkennung ; Verzögerungszeit ; Online-Publikation |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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