Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: dcs=620.1*
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1252479123 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Hyperspectral imaging microscopy for atomic layer mapping of two-dimensional materials / Xingchen Dong |
| Person(en) | Dong, Xingchen (Verfasser) |
| Organisation(en) | Shaker Verlag (Verlag) |
| Verlag | Düren : Shaker Verlag |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2022 |
| Umfang/Format | circa 173 Seiten : Illustrationen ; 21 cm x 14.8 cm, 260 g |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Online-Ausgabe: Dong, Xingchen: Hyperspectral Imaging Microscopy for Atomic Layer Mapping of Two-Dimensional Materials |
| Hochschulschrift | Dissertation, Technische Universität München, 2021 |
| ISBN/Einband/Preis |
978-3-8440-8517-4 Broschur : EUR 48.80 (DE), EUR 48.80 (AT), CHF 61.10 (freier Preis) 3-8440-8517-3 |
| EAN | 9783844085174 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Reports on measurement and sensor systems |
| Schlagwörter | Graphen ; Übergangsmetalldichalkogenide ; Schwarzer Phosphor ; Mikroskopie ; Hyperspektraler Sensor ; Bildverarbeitung |
| DDC-Notation | 620.1127 [DDC23ger]; 621.367 [DDC23ger] |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau ; 621.3 Elektrotechnik, Elektronik ; 540 Chemie |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 2022 AA 20999 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2022 AA 48175 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Leipzig |
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