Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/1197644229 |
| Veranstaltung | IEEE VLSI Test Symposium (37. : 2019 : Monterey, Calif.) |
| Andere Namen |
VLSI Test Symposium (37. : 2019 : Monterey, Calif.) IEEE VTS (37. : 2019 : Monterey, Calif.) VTS (37. : 2019 : Monterey, Calif.) |
| Zeit | 23.04.2019-25.04.2019 |
| Land | USA (XD-US) |
| Geografischer Bezug | Veranstaltungsort: Monterey, Calif. |
| Beziehungen zu Organisationen | Veranstalter: Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Typ | Veranstaltung (vie) |

