Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Neuigkeiten Dienstag, 17. Juni 2025: Die Deutsche Nationalbibliothek ist wegen eines Beschäftigtentreffens an beiden Standorten geschlossen. Die Ausstellungen des Deutschen Buch- und Schriftmuseums in Leipzig sind von 10 bis 18 Uhr geöffnet. Die Ausstellungen des Deutschen Exilarchivs 1933-1945 in Frankfurt sind geschlossen. // Tuesday, 17 June 2025: The German National Library will be closed at both locations due to a staff meeting. The exhibitions of the German Museum of Books and Writing in Leipzig will open from 10:00 to 18:00. The exhibitions of the German Exile Archive 1933-1945 in Frankfurt will be closed.
 
 

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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/981603610
Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Selbsttest und Fehlertoleranz mit zugelassener milder Degradation in integrierten CMOS-Sensorsystemen / von Dirk Weiler
Person(en) Weiler, Dirk (Verfasser)
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2001
Umfang/Format Online-Ressource, ca. 1,7 MB
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Weiler, Dirk: Selbsttest und Fehlertoleranz mit zugelassener milder Degradation in integrierten CMOS-Sensorsystemen
Hochschulschrift Duisburg, Univ., Diss., 2001
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:hbz:464-20061017-113835-2
URL http://duepublico.uni-duisburg-essen.de/servlets/DerivateServlet/Derivate-5086/Dissertation_gesamt.pdf (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
http://duepublico.uni-duisburg-essen.de/servlets/DocumentServlet?id=5086 (Verlag)
http://purl.oclc.org/NET/duett-06212001-115638 (Verlag)
Schlagwörter Integrierter Sensor ; CMOS-Schaltung ; Selbsttest ; Korrektur ; Fehlertoleranz ; Degradation <Technik>
DDC-Notation 621.381520287 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

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