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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1162629592
Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Scanning tunneling potentiometry at nanoscale defects in thin films / Felix Lüpke ; Bert Voigtländer, Markus Morgenstern
Person(en) Lüpke, Felix (Verfasser)
Voigtländer, Bert (Akademischer Betreuer)
Morgenstern, Markus (Akademischer Betreuer)
Verlag Aachen : Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2018
Umfang/Format Online-Ressource
Hochschulschrift Dissertation, RWTH Aachen University, 2017
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2018071209160394856122
DOI: 10.18154/RWTH-2018-00215
URL http://publications.rwth-aachen.de/record/712067 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Schlagwörter Potentiometry* ; Thin films* ; Tunneling* (*maschinell ermittelt)
Sachgruppe(n) 530 Physik

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