Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Thomas" and "White"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1224956931 |
| Titel | Rapid Structural Defect Mapping of Bulk II–VI Semiconductors Using White-Beam Synchrotron Topography and X-Ray / by Don Di Marzio, Louis G. Casagrande, Myung B. Lee, Thomas Fanning, Michael Dudley |
| Person(en) |
Di Marzio, Don (Verfasser) Casagrande, Louis G. (Verfasser) Lee, Myung B. (Verfasser) Fanning, Thomas (Verfasser) Dudley, Michael (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2021011221334801374948 DOI: 10.1557/PROC-262-215 |
| URL | https://doi.org/10.1557/PROC-262-215 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 1992 |
| DDC-Notation | 537.6226 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Materials Research Society: MRS online proceedings library (Bd. 262, 1.2.1992, Nr. 1, date:12.1992: 215-221) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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