Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1000115771 |
Art des Inhalts | Hochschulschrift |
Titel | Mechanical and electrical measurements on the nanoscale using atomic force microscopy in ambient conditions and liquids / vorgelegt von Daniel Ebeling |
Person(en) | Ebeling, Daniel (Verfasser) |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2009 |
Umfang/Format | II, 83 S. : Ill., graph. Darst. ; 30 cm |
Hochschulschrift | Münster (Westfalen), Univ., Diss., 2009 (Nicht für den Austausch) |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
DDC-Notation | 530.417 [DDC22ger]; 502.82 [DDC22ger] |
Sachgruppe(n) | 530 Physik |
Frankfurt |
Signatur: 2010 B 5313
Bereitstellung in Frankfurt |
Leipzig |
Signatur: 2010 B 7518
Bereitstellung in Leipzig |
