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Ergebnis der Suche nach: "Ulrich" and "Hartmann"

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Titel Lead diffusion in CaTiO 3: A combined study using Rutherford backscattering and TOF-SIMS for depth profiling to reveal the role of lattice strain in diffusion processes
Person(en) Beyer, Christopher (Verfasser)
Dohmen, Ralf (Verfasser)
Rogalla, Detlef (Verfasser)
Becker, Hans-Werner (Verfasser)
Marquardt, Katharina (Verfasser)
Vollmer, Christian (Verfasser)
Hagemann, Ulrich (Verfasser)
Hartmann, Nils (Verfasser)
Chakraborty, Sumit (Verfasser)
Umfang/Format Online-Ressource
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2404201612401.886205658436
DOI: 10.2138/am-2019-6730
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 24.03.2019
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: American mineralogist (Bd. 104, 2019, Nr. 4: 557-568. 12 S.)

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