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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel In-operando hard X-ray photoelectron spectroscopy study on the resistive switching physics of HfO2-based RRAM / Malgorzata Sowinska ; Thomas Schröder, Karol Fröhlich, Lambert Alff
Person(en) Kot, Małgorzata (Verfasser)
Schröder, Thomas (Akademischer Betreuer)
Fröhlich, Karol (Akademischer Betreuer)
Alff, Lambert (Akademischer Betreuer)
Verlag Cottbus : BTU Cottbus - Senftenberg
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2014
Umfang/Format Online-Ressource
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Kot, Małgorzata: In-operando hard X-ray photoelectron spectroscopy study on the resistive switching physics of HfO2-based RRAM
Hochschulschrift Dissertation, Cottbus, BTU Cottbus - Senftenberg, 2014
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:kobv:co1-opus4-30076
URL https://opus4.kobv.de/opus4-btu/frontdoor/index/index/docId/3007 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Schlagwörter Röntgenspektroskopie ; Defekt ; FRAM <Informatik> ; Dünne Schicht
DDC-Notation 530.4175 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 530 Physik

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