Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Thomas" and "White"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1225619483 |
| Titel | Transmission Electron Microscopy Studies of Strained Si CMOS / by Qianghua Xie, Peter Fejes, Mike Kottke, Xiangdong Wang, Mike Canonico, David Theodore, Ted White, Mariam Sadaka, Victor Vartanian, Aaron Thean, Bich-Yen Nguyen, Alex Barr, Shawn Thomas, Ran Liu |
| Person(en) |
Xie, Qianghua (Verfasser) Fejes, Peter (Verfasser) Kottke, Mike (Verfasser) Wang, Xiangdong (Verfasser) Canonico, Mike (Verfasser) Theodore, David (Verfasser) White, Ted (Verfasser) Sadaka, Mariam (Verfasser) Vartanian, Victor (Verfasser) Thean, Aaron (Verfasser) Nguyen, Bich-Yen (Verfasser) Barr, Alex (Verfasser) Thomas, Shawn (Verfasser) Liu, Ran (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2021012221471345070240 DOI: 10.1557/PROC-864-E4.31 |
| URL | https://doi.org/10.1557/PROC-864-E4.31 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2005 |
| DDC-Notation | 537.6226 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Materials Research Society: MRS online proceedings library (Bd. 864, 1.10.2005, Nr. 1, date:12.2004: 4311-4315) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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