Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Machine Learning"
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1326617281 |
Titel | Understanding Defects in Amorphous Silicon with Million‐Atom Simulations and Machine Learning |
Person(en) |
Morrow, Joe D. (Verfasser) Ugwumadu, Chinonso (Verfasser) Drabold, David A. (Verfasser) Elliott, Stephen R. (Verfasser) Goodwin, Andrew L. (Verfasser) Deringer, Volker L. (Verfasser) |
Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2404181429149.993568036637 DOI: 10.1002/anie.202403842 |
URL | https://doi.org/10.1002/anie.202403842 |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 18.04.2024 |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Beziehungen | Enthalten in: Angewandte Chemie / International edition (18.04.2024. 10 S.) |
Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
