Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Machine Learning"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1326617915 |
| Titel | Understanding Defects in Amorphous Silicon with Million‐Atom Simulations and Machine Learning |
| Person(en) |
Morrow, Joe D. (Verfasser) Ugwumadu, Chinonso (Verfasser) Drabold, David A. (Verfasser) Elliott, Stephen R. (Verfasser) Goodwin, Andrew L. (Verfasser) Deringer, Volker L. (Verfasser) |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2404181433037.364672345071 DOI: 10.1002/ange.202403842 |
| URL | https://doi.org/10.1002/ange.202403842 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 18.04.2024 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Angewandte Chemie (18.04.2024. 10 S.) |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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